Заседание международного семинара "Анализ и понимание изображений"

Уважаемые коллеги!

Продолжает работу постоянно действующий Международный научно-исследовательский семинар «Анализ и понимание изображений (Математические, когнитивные и прикладные проблемы анализа изображений и сигналов)»

Очередное заседание семинара состоится 28 марта 2017 г. в 16:00 по адресу: ВЦ РАН ФИЦ ИУ РАН, ул. Вавилова, д. 40, 3-й этаж, конференц-зал.

Докладчик – Чернов Тимофей Сергеевич (ИСА РАН ФИЦ ИУ РАН)

Тема доклада

«АЛГОРИТМ ДЕТЕКТИРОВАНИЯ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАЗЫ РЕШЕТКИ ПЕРИОДИЧЕСКИХ ЗАЩИТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ИЗОБРАЖЕНИЯ ДОКУМЕНТА»

Аннотация

С целью защиты от подделок на многие документы наносятся периодические защитные элементы: голограммы, водяные знаки, гильоши. Определение наличия таких элементов позволяет производить автоматическую проверку подлинности документа и идентификацию его типа, а также использовать специальные параметры систем оптического распознавания символов в областях присутствия защитных элементов. Данная работа посвящена развитию методов детектирования и локализации периодических фоновых элементов, основанных на дискретном двумерном преобразовании Фурье. Рассмотрена модель изображения документа с наличием периодической фоновой структуры, обсуждены алгоритмы детектирования и локализации фоновых структур, следующие из рассмотренной модели. Исследовано поведение и точностные характеристики алгоритмов на тестовых выборках изображений паспортов РФ, проведен экспериментальный анализ их устойчивости к ошибкам нахождения границ документа. Предложены модификации алгоритмов детектирования и локализации, такие, как маскирование и замещение зашумленных частей изображения документа, подавление спектра фона и оценка фазовых компонент единичного периодического элемента, улучшающие разделяющую способность детектирования и снижающие ошибку локализации в два раза.

Приглашаются все желающие!

Контакты для связи: тел. (499) 135-90-33, (916) 787-18-00, e-mail: werayashina@gmail.com

О чем: 

Международная деятельность

Новости Управление международно-технического сотрудничества ФИЦ ИУ РАН